Металлографический микроскоп для контроля полупроводников INT J-51

Доп методы наблюдения

Яркое поле /темное поле / поляризованный свет /DIC/ проходящий свет

Оптическая система

Оптическая система с бесконечной коррекцией хроматических аберраций

Окуляр

Окуляр PL10X/22 с плоским полем и высокой точкой обзора

Тубус

Трехглазный бинокль с поворотом на 30°, спектральное соотношение: трехглазный бинокль =100:0 или 50:50

Объект

Металлографический объектив LMPL с бесконечно большим рабочим расстоянием 5X, 10X,20X, 50X, 100X (опционально)

Конвертер

5-луночный наклонный преобразователь с прорезью для DIC

Платформа

4-дюймовая двухслойная механическая передвижная платформа, ход 105х105 мм, правосторонние подвижные маховики X и Y, оснащенные интерфейсом платформы.

Корпус микроскопа

Коаксиальный с грубой регулировкой, ход грубой регулировки 33 мм, точность точной регулировки 0,001 мм, с верхним пределом механизма грубой регулировки и эластичным регулировочным устройством. Встроенный трансформатор широкого диапазона напряжения 90-240 В, двойная выходная мощность.

Система рефлекторного освещения

С регулируемой диафрагмой поля зрения и апертурной диафрагмой, центр которой можно регулировать; С прорезью для цветного фильтра и прорезью для поляризационного устройства; С диагональным стержнем переключения освещения. галогенная лампа 12 В мощностью 100 Вт с плавной регулировкой интенсивности света (при выборе этой группы осветителей следует использовать корпус микроскопа MX6R).

Система трансмиссионного освещения (опционально)

Одиночный мощный светодиод мощностью 5 Вт, белый, с плавной регулировкой интенсивности света.

Конденсатор N. A. 0,5 с диафрагмой с регулируемой апертурой.